Заказать семинар!Фильм о работе в компанииPT Electronics на выставке ЭкспоЭлектроника
  • 8 800 333-63-50Звонок из регионов бесплатный
  • semicond@ptelectronics.ru
  • Задать вопрос

    Имя *

    E-Mail *

    Компания *

    Телефон *

    Вопрос *

    Защитный код *

    Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

  • Подписка на новости
    Укажите интересующие списки новостей:

Назад

Тестовые разъемы IDI

Тестовые разъемы

Область применения: тестирование микросхем

testovie-razjemy-idi

Array PoP Test

Кроватки для тестирования микросхем PoP (Package-on-Package) технологии изготовления;

Array High Speed Test

Кроватки для тестирования ВЧ и СВЧ высокоскоростных микросхем, до 20 Гб/с, 40ГГц;

Array Standard Test

Различные кроватки для тестирования микросхем;

Peripheral Strip Test — Gutenberg

Peripheral Tri-Temp Test — Celsius

Micro Series Probe Heads

Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;

Monet Probe Heads

Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;

Написать письмо специалисту

elmeh@ptelectronics.ru

Задать вопрос
Заказать образцы

Имя *

E-Mail *

Компания *

Телефон *

Вопрос *

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Имя *

E-Mail *

Телефон *

Сайт

Компания *

Почтовый адрес

Изделие

Описание

Время разработки

Количество изделий в год

Наименования и количество образцов *

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных