English 0 позиций в запросе!   Отправить?
Подписка на новости
Задать вопрос

Имя *

E-Mail *

Компания *

Телефон *

Вопрос *

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Заказать образцы

Имя *

E-Mail *

Телефон *

Сайт

Компания *

Описание проекта *

Образцы предоставляются под проект

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на
обработку своих персональных данных и
обратную связь со специалистами PT Electronics

Подписка на новости

Назад

Тестовые разъемы IDI

Тестовые разъемы

Область применения: тестирование микросхем

testovie-razjemy-idi

Array PoP Test

Кроватки для тестирования микросхем PoP (Package-on-Package) технологии изготовления;

Array High Speed Test

Кроватки для тестирования ВЧ и СВЧ высокоскоростных микросхем, до 20 Гб/с, 40ГГц;

Array Standard Test

Различные кроватки для тестирования микросхем;

Peripheral Strip Test — Gutenberg

Peripheral Tri-Temp Test — Celsius

Micro Series Probe Heads

Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;

Monet Probe Heads

Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;

Написать письмо специалисту

elmeh@ptelectronics.ru

Задать вопросЗаказать образцы
Задать вопрос

Имя *

E-Mail *

Компания *

Телефон *

Вопрос *

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Заказать образцы

Имя *

E-Mail *

Телефон *

Сайт

Компания *

Описание проекта *

Образцы предоставляются под проект

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на
обработку своих персональных данных и
обратную связь со специалистами PT Electronics