Тестовые разъемы IDI

Тестовые разъемы

Область применения: тестирование микросхем

Array PoP Test

Кроватки для тестирования микросхем PoP (Package-on-Package) технологии изготовления;

Array High Speed Test

Кроватки для тестирования ВЧ и СВЧ высокоскоростных микросхем, до 20 Гб/с, 40ГГц;

Array Standard Test

Различные кроватки для тестирования микросхем;

Peripheral Strip Test — Gutenberg

Peripheral Tri-Temp Test — Celsius

Micro Series Probe Heads

Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;

Monet Probe Heads

Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;