English 0 позиций в запросе!   Отправить?
Подписка на новости
Задать вопрос

    Имя *

    E-Mail *

    Компания *

    Телефон *

    Вопрос *

    Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

    Заказать образцы

      Имя *

      E-Mail *

      Телефон *

      Сайт

      Компания *

      Описание проекта *

      Образцы предоставляются под проект

      Нажимая на кнопку, вы даете согласие на
      обработку своих персональных данных и
      обратную связь со специалистами PT Electronics

      Подписка на новости

      Назад

      Тестовые разъемы IDI

      Тестовые разъемы

      Область применения: тестирование микросхем

      testovie-razjemy-idi

      Array PoP Test

      Кроватки для тестирования микросхем PoP (Package-on-Package) технологии изготовления;

      Array High Speed Test

      Кроватки для тестирования ВЧ и СВЧ высокоскоростных микросхем, до 20 Гб/с, 40ГГц;

      Array Standard Test

      Различные кроватки для тестирования микросхем;

      Peripheral Strip Test — Gutenberg

      Peripheral Tri-Temp Test — Celsius

      Micro Series Probe Heads

      Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;

      Monet Probe Heads

      Кроватки с подпружиненными контактами для тестирования WLCSP-чипов;