English 0 позиций в запросе!   Отправить?
Подписка на новости
Задать вопрос

Имя *

E-Mail *

Компания *

Телефон *

Вопрос *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Заказать образцы

Имя *

E-Mail *

Телефон *

Сайт

Компания *

Описание проекта *

Образцы предоставляются под проект

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на
обработку своих персональных данных и
обратную связь со специалистами PT Electronics

Подписка на новости

  • Переключатели на pin-диодах Macom

    12 Мар 2019 На первый взгляд кажется, что реализовать ВЧ- или СВЧ-переключатель не такая уж и сложная задача: по необходимым параметрам подобрать интегральную схему переключателя и, если таковой не существует, создать свое кастомное решение переключателя на pin-диодах. Отличным помощником в решении таких задач может послужить портфолио компании Macom. Кремниевые pin-диоды, гибридные интегральные схемы, арсенид-галлиевые (GaAs) pin-диоды и интегральные схемы ... (читать далее)
  • Тенденции развития СВЧ электроники для широкополосных применений

    14 Окт 2017 На сегодняшний день сохраняются две основные тенденции развития электронной компонентной базы СВЧ – повышение интеграции схем СВЧ и развитие технологии. Причём, если говорить о технологическом развитии, то имеет смысл сделать ударение именно на развитие GaN технологии, поскольку все остальные могут рассматриваться как пути улучшения достигнутых характористик, а технологии, основанные на производстве GaN-элементов, позволяют достичь поистине ... (читать далее)
  • Испытание мощных РЧ транзисторов, выполненных по технологии GaN на SiC, на долговечность технологии GaN на SiC, на долговечность при высокой мощности РЧ сигнала

    11 Мар 2017 Раз  уж GaN  технология  для  создания  мощных  устройств  вполне  развилась  и получила  одобрение  на  рынке,  производители,  которые  снабжают  его  продуктами, использующими  эту  подающую  надежды  технологию,  обязаны  обеспечить  её надёжность.   В  этой  статье  представлен  обзор  тестовых  методик, используемых для  определения  интенсивности  отказов  и  приводится  сравнение  методов определения  срока  службы  в  условиях  ... (читать далее)