Заказать семинар!Фильм о работе в компанииPT Electronics на выставке ЭкспоЭлектроника
  • 8 800 333-63-50Звонок из регионов бесплатный
  • semicond@ptelectronics.ru
  • Задать вопрос

    Имя *

    E-Mail *

    Компания *

    Телефон *

    Вопрос *

    Защитный код *

    Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

  • Подписка на новости
    Укажите интересующие списки новостей:

Назад

Тестовые контакты IDI

≤ 0.025″ — 0.300” Centers | Standard Spring Probes

Стандартные подпружиненные контакты для испытательных стендов. Диаметр контактов от 0,51 мм до 4,75 мм.

testovie-kontakty-idi-1

0.100″ & 0.125″ & 0.156″ & 0.187″ Centers | High Current Spring Probes

Силовые контакты для испытательных стендов.

ATE Interface Probes

Серия подпружиненных контактов для автоматизированного испытательного оборудования.

Coaxial Probe with Cable

Высоконадежные коаксиальные щупы с кабелем или без.

Coaxial Probe with SMB Connector

Коаксиальные щупы для поверхностного монтажа.

Double-Ended / Wireless Test Receptacles

Двухсторонние (беспроводные) разъемы.

Double-Ended / Wireless Test Spring Probes

Двухсторонние (беспроводные) контакты.

Double-Ended Coaxial Probe

Двухсторонные коаксиальные щупы.

Interface Pin

Интерфейсные щупы.

Switch Probes

Щуп и разъем для испытаний жгутов.

Thermocouple Probes

Незаземленная термопара для измерения изменений температуры.

Написать письмо специалисту

elmeh@ptelectronics.ru

Задать вопрос
Заказать образцы

Имя *

E-Mail *

Компания *

Телефон *

Вопрос *

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных

Имя *

E-Mail *

Телефон *

Сайт

Компания *

Почтовый адрес

Изделие

Описание

Время разработки

Количество изделий в год

Наименования и количество образцов *

Защитный код *

Нажимая на кнопку, вы даете согласие на обработку своих персональных данных