отправка...≤ 0.025″ — 0.300” Centers | Standard Spring Probes
Стандартные подпружиненные контакты для испытательных стендов. Диаметр контактов от 0,51 мм до 4,75 мм.
0.100″ & 0.125″ & 0.156″ & 0.187″ Centers | High Current Spring Probes
Силовые контакты для испытательных стендов.
ATE Interface Probes
Серия подпружиненных контактов для автоматизированного испытательного оборудования.
Coaxial Probe with Cable
Высоконадежные коаксиальные щупы с кабелем или без.
Coaxial Probe with SMB Connector
Коаксиальные щупы для поверхностного монтажа.
Double-Ended / Wireless Test Receptacles
Двухсторонние (беспроводные) разъемы.
Double-Ended / Wireless Test Spring Probes
Двухсторонние (беспроводные) контакты.
Double-Ended Coaxial Probe
Двухсторонные коаксиальные щупы.
Interface Pin
Интерфейсные щупы.
Switch Probes
Щуп и разъем для испытаний жгутов.
Thermocouple Probes
Незаземленная термопара для измерения изменений температуры.
